Atominės jėgos mikroskopas
Atominės jėgos mikroskopas (AJM – angl. AFM) – labai aukštos rezoliucijos skenuojančio zondo mikroskopas. AJM yra vienas iš svarbiausių įrenginių vaizduojant, matuojant arba manipuliuojant nano matmenų medžiagas. Informacija yra surenkama jaučiant paviršių su mechaniniu zondu.
Darbo rėžimai
Yra keli atominės jėgos mikroskopo darbo rėžimai:[1]
- kontaktinis
- nekontaktinis
- dinaminio kontaktavimo